1. HOME
  2. サービス
  3. マテリアルサイエンス
  4. 材料・素材
  5. 触媒、粉体、ナノ材料
  6. 触媒・粉体・物性試験(触媒の評価)

触媒・粉体・物性試験(触媒の評価)

表面の評価

表面構成
  • X線光電子分光法(XPS)
  • オージェ電子分光法(AES)
  • 電子プローブマイクロ分析(EPMA)
  • 走査型電子顕微鏡-X線分析(SEM-EDX)
  • 透過型電子顕微鏡-X線分析(TEM-EDX)
表面原子の電子状態
  • X線光電子分光法(XPS)
  • オージェ電子分光法(AES)
金属分散度
  • H2パルス吸着法
  • COパルス吸着法
  • X線光電子分光法(XPS)
  • 透過型電子顕微鏡(TEM)
  • X線回折分析(XRD)
吸着種
  • 赤外分光法(IR)
  • 昇温脱離・熱分解-質量分析(TPD-MS)
昇温ガス反応測定
  • 昇温酸化反応(TPO)
  • 昇温還元反応(TPR)
in situ 測定
  • 赤外分光法(IR)
固体酸塩基性
  • アンモニアTPD法
  • CO2TPD法
  • ピリジン吸着法(IR)
表面積
  • BET一点法(N2吸着法)
  • BET多点法(N2吸着法)
  • BET多点法(Ar吸着法)
細孔分布
  • 水銀ポロシメーター法
  • 吸着・脱離等温線法(N2)
粒径と形状
  • 走査型電子顕微鏡(SEM)
  • 透過型電子顕微鏡(TEM)
  • 走査透過型電子顕微鏡(STEM)

バルクの評価

構造解析
  • X線回折分析(XRD)
  • 赤外分光法(IR)
  • ラマン分光法(RAMAN)
細孔径分布
  • 水銀ポロシメーター
  • 吸着・脱離等温線法(N2)
粒界の構造
  • 高分解能透過電子顕微鏡(HR-TEM)
元素分析
  • 原子吸光分析(AAS)
  • ICP発光分光分析(ICP-AES)
  • ICP質量分析(ICP-MS)
  • 蛍光X線分析(XRF)
拡散反射FT-IR
拡散反射FT-IR
細孔への窒素吸着
細孔への窒素吸着
水銀ポロシメーター 水銀ポロシメーター

技術事例

お問い合わせ

分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームまたは電話・FAXにてお気軽にお問い合わせください。

受付時間
9:00 ~ 12:00 および 13:00~17:30(土日祝、年末年始、当社休業日をのぞく)
お電話
03-5689-1219
FAX
03-5689-1222