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触媒

研究開発の活性障壁を乗り越える、信頼の触媒評価技術。

固体触媒は、化学工業をはじめ、エネルギーや環境など様々な分野において重要な役割を果たしています。固体触媒の研究開発には、反応場における触媒と反応物の構造を解析し、反応メカニズムを推定するプロセスが欠かせません。住化分析センターは経験に裏打ちされた知見と各種分析手法の融合による、多角的な触媒キャラクタリゼーションサービスのご提供により、固体触媒の研究開発に貢献いたします。

特徴/当社の強み

①元素分析、形態観察、表面状態分析、固体・粉体物性、熱物性、反応特性など、触媒分析に必要な技術を幅広く取り揃えています。
②様々な受託分析で培った触媒解析ノウハウを活かし、お客様の固体触媒研究に貢献いたします。
③豊富な分析キャパシティにより、お客様の製品管理にかかる膨大なルーチン分析に対してもコストコンシャスなご提案をいたします。

分析項目

構造・組成

項目 分析手法・装置
形態観察
(ミクロ、 マクロ)
  • ・走査型電子顕微鏡(SEM)
  • ・走査型透過電子顕微鏡(STEM)
  • ・X線CT
  • ・光学顕微鏡
細孔径分布、細孔容積
  • ・小角X線散乱(SAXS)
  • ・N2ガス吸着法
  • ・Arガス吸着法
  • ・モレキュラープローブ法
  • ・水銀圧入法
比表面積
  • ・N2ガス吸着法
  • ・Arガス吸着法
  • ・Krガス吸着法
結晶構造
  • ・X線回折(XRD)
  • ・ラマン分光法
  • ・高分解能透過型電子顕微鏡(TEM)
触媒組成
不純物
付着物
  • ・誘導結合プラズマ発光分光分析(ICP-AES)
  • ・誘導結合プラズマ質量分析(ICP-MS)
  • ・蛍光X線分析(WXRF、EDX)
  • ・分析電子顕微鏡(SEM-EDX、TEM-EDX)
  • ・電子線マイクロ分析(EPMA)
  • ・灰分、水分
  • ・C、H、N、O、S、P分析(NCH計、ND-IR、燃焼法)
  • ・ハロゲン(イオンクロマトグラフ)
金属表面積、分散度
  • ・化学吸着法(CO、H2、 N2Oなど)
金属価数
  • ・X線光電子分光分析(XPS)
  • ・X線吸収微細構造(XAFS)
  • ・X線回折(XRD)
  • ・電子スピン共鳴法(ESR)
※雰囲気前処理が可能です。
前処理
  • ・所定の雰囲気・温度で触媒の前処理が可能です。
 (大気非開放でXPS、TEM、SEMなどへのサンプル移送ができます。)

ガス吸着特性、その他物性

項目 分析手法・装置
吸着量、脱離量
  • ・ガス吸着等温線 (N2、Kr、 Ar、 トルエン、メタノール、CO2、H2O等)
吸着・拡散速度
  • ・ガス吸着等温線(定容量法、重量法)
吸着熱量
  • ・ガス吸着等温線(微分吸着熱)
表面ガス吸着サイト
  • ・ガス吸着FT-IR(CO、NO、CO2、低沸点有機溶媒  等)
粉体物性
  • ・粒度分布(レーザー回折法、ふるい法など)
  • ・Carr.の粉体指数
  (かさ密度、安息角、圧縮度、スパチュラ角、凝集度、流動性、崩潰角、差角、分散度)
比熱
  • ・DSC法
  • ・断熱法
熱伝導率
  • ・レーザーフラッシュ法
  • ・熱線法

触媒・反応特性

項目 分析手法・装置
酸・塩基特性
(強度、量、酸種)
  • ・NH3-TPD(酸量)
  • ・ピリジン吸着IR(B酸、L酸)
  • ・固体NMR(Si/Al比)
触媒反応温度
  • ・昇温還元法(TPR)
  • ・昇温酸化法(TPO)
※ガス種は応相談
反応生成物
  • ・GC-MS
転化率、選択率
  • ・マイクロリアクター
示差熱、熱重量、生成ガス
  • ・熱重量-質量分析(TG-MS)
価数変化
  • in situ XAFS
結晶構造変化
  • in situ XRD-MS
吸着種
  • in situ FT-IR

この他、各種物性測定についてもご相談ください。

技術事例

お問い合わせ

分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームまたは電話・FAXにてお気軽にお問い合わせください。

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