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触媒

研究開発の活性障壁を乗り越える、信頼の触媒評価技術

固体触媒は、化学工業をはじめ、エネルギーや環境など様々な分野において重要な役割を果たしています。固体触媒の研究開発には、反応場における触媒と反応物の構造を解析し、反応メカニズムを推定するプロセスが欠かせません。住化分析センターは経験に裏打ちされた知見と各種分析手法の融合による、多角的な触媒キャラクタリゼーションサービスのご提供により、固体触媒の研究開発に貢献いたします。

特徴/当社の強み

①元素分析、形態観察、表面状態分析、固体・粉体物性、熱物性、反応特性など、触媒分析に必要な技術を幅広く取り揃えています。
②様々な受託分析で培った触媒解析ノウハウを活かし、お客様の固体触媒研究に貢献いたします。
③豊富な分析キャパシティにより、お客様の製品管理にかかる膨大なルーチン分析に対してもコストコンシャスなご提案をいたします。

分析項目

構造・組成

項目 分析手法・装置
形態観察
（ミクロ、 マクロ）		 ・走査型電子顕微鏡（SEM）
・走査型透過電子顕微鏡（STEM）
・X線CT
・光学顕微鏡
細孔径分布、細孔容積 ・小角X線散乱（SAXS）
・N2ガス吸着法
・Arガス吸着法
・モレキュラープローブ法
・水銀圧入法
比表面積 ・N2ガス吸着法
・Arガス吸着法
・Krガス吸着法
結晶構造 ・X線回折（XRD）
・ラマン分光法
・高分解能透過型電子顕微鏡（TEM）
触媒組成
不純物
付着物		 ・誘導結合プラズマ発光分光分析（ICP-AES）
・誘導結合プラズマ質量分析（ICP-MS）
・蛍光X線分析（WXRF、EDX）
・分析電子顕微鏡（SEM-EDX、TEM-EDX）
・電子線マイクロ分析（EPMA）
・灰分、水分
・C、H、N、O、S、P分析（NCH計、ND-IR、燃焼法）
・ハロゲン（イオンクロマトグラフ）
金属表面積、分散度 ・化学吸着法(CO、H2、 N2Oなど）
金属価数 ・X線光電子分光分析（XPS）
・X線吸収微細構造（XAFS）
・X線回折（XRD）
・電子スピン共鳴法（ESR）
※雰囲気前処理が可能です。
前処理 ・所定の雰囲気・温度で触媒の前処理が可能です。
　（大気非開放でＸＰＳ、ＴＥＭ、ＳＥＭなどへのサンプル移送ができます。）

ガス吸着特性、その他物性

項目 分析手法・装置
吸着量、脱離量 ・ガス吸着等温線 （N2、Kr、 Ar、 トルエン、メタノール、CO2、H2O等)
吸着・拡散速度 ・ガス吸着等温線（定容量法、重量法）
吸着熱量 ・ガス吸着等温線（微分吸着熱）
表面ガス吸着サイト ・ガス吸着FT-IR（CO、NO、CO2、低沸点有機溶媒 　等）
粉体物性 ・粒度分布（レーザー回折法、ふるい法、画像解析法など）
・Carr.の粉体指数
  （かさ密度、安息角、圧縮度、スパチュラ角、凝集度、流動性、崩潰角、差角、分散度）
 ・形状特性評価（画像解析法）
比熱 ・DSC法
・断熱法
熱伝導率 ・レーザーフラッシュ法
・熱線法

触媒・反応特性

項目 分析手法・装置
酸・塩基特性
（強度、量、酸種）		 ・NH3-TPD（酸量）
・ピリジン吸着IR（B酸、L酸）
・固体NMR（Si/Al比）
触媒反応温度 ・昇温還元法（TPR）
・昇温酸化法（TPO）
※ガス種は応相談
反応生成物 ・GC-MS
転化率、選択率 ・マイクロリアクター
示差熱、熱重量、生成ガス ・熱重量-質量分析（TG-MS）
価数変化 ・in situ XAFS
結晶構造変化 ・in situ XRD-MS
吸着種 ・in situ FT-IR

この他、各種物性測定についてもご相談ください。

関連技術

技術事例

関連情報

お問い合わせ

分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームからお問い合わせください。

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