触媒｜触媒、粉体、カーボン、ゼオライト、その他多孔性材料｜材料・素材｜サービス

研究開発の活性障壁を乗り越える、信頼の触媒評価技術

固体触媒は、化学工業をはじめ、エネルギーや環境など様々な分野において重要な役割を果たしています。固体触媒の研究開発には、反応場における触媒と反応物の構造を解析し、反応メカニズムを推定するプロセスが欠かせません。住化分析センターは経験に裏打ちされた知見と各種分析手法の融合による、多角的な触媒キャラクタリゼーションサービスのご提供により、固体触媒の研究開発に貢献いたします。

特徴/当社の強み

①元素分析、形態観察、表面状態分析、固体・粉体物性、熱物性、反応特性など、触媒分析に必要な技術を幅広く取り揃えています。
②様々な受託分析で培った触媒解析ノウハウを活かし、お客様の固体触媒研究に貢献いたします。
③豊富な分析キャパシティにより、お客様の製品管理にかかる膨大なルーチン分析に対してもコストコンシャスなご提案をいたします。

分析項目

構造・組成

項目	分析手法・装置
形態観察（ミクロ、マクロ）	・走査型電子顕微鏡（SEM）・走査型透過電子顕微鏡（STEM）・X線CT ・光学顕微鏡
細孔径分布、細孔容積	・小角X線散乱（SAXS）・N2ガス吸着法・Arガス吸着法・モレキュラープローブ法・水銀圧入法
比表面積	・N2ガス吸着法・Arガス吸着法・Krガス吸着法
結晶構造	・X線回折（XRD）・ラマン分光法・高分解能透過型電子顕微鏡（TEM）
触媒組成不純物付着物	・誘導結合プラズマ発光分光分析（ICP-AES）・誘導結合プラズマ質量分析（ICP-MS）・蛍光X線分析（WXRF、EDX）・分析電子顕微鏡（SEM-EDX、TEM-EDX）・電子線マイクロ分析（EPMA）・灰分、水分・C、H、N、O、S、P分析（NCH計、ND-IR、燃焼法）・ハロゲン（イオンクロマトグラフ）
金属表面積、分散度	・化学吸着法(CO、H2、 N2Oなど）
金属価数	・X線光電子分光分析（XPS）・X線吸収微細構造（XAFS）・X線回折（XRD）・電子スピン共鳴法（ESR） ※雰囲気前処理が可能です。
前処理	・所定の雰囲気・温度で触媒の前処理が可能です。　（大気非開放でＸＰＳ、ＴＥＭ、ＳＥＭなどへのサンプル移送ができます。）

ガス吸着特性、その他物性

項目	分析手法・装置
吸着量、脱離量	・ガス吸着等温線（N2、Kr、 Ar、トルエン、メタノール、CO2、H2O等)
吸着・拡散速度	・ガス吸着等温線（定容量法、重量法）
吸着熱量	・ガス吸着等温線（微分吸着熱）
表面ガス吸着サイト	・ガス吸着FT-IR（CO、NO、CO2、低沸点有機溶媒　等）
粉体物性	・粒度分布（レーザー回折法、ふるい法、画像解析法など）・Carr.の粉体指数（かさ密度、安息角、圧縮度、スパチュラ角、凝集度、流動性、崩潰角、差角、分散度）・形状特性評価（画像解析法）
比熱	・DSC法・断熱法
熱伝導率	・レーザーフラッシュ法・熱線法

触媒・反応特性

項目	分析手法・装置
酸・塩基特性（強度、量、酸種）	・NH3-TPD（酸量）・ピリジン吸着IR（B酸、L酸）・固体NMR（Si/Al比）
触媒反応温度	・昇温還元法（TPR）・昇温酸化法（TPO） ※ガス種は応相談
反応生成物	・GC-MS
転化率、選択率	・マイクロリアクター
示差熱、熱重量、生成ガス	・熱重量-質量分析（TG-MS）
価数変化	・in situ XAFS
結晶構造変化	・in situ XRD-MS
吸着種	・in situ FT-IR

この他、各種物性測定についてもご相談ください。

技術事例

お問い合わせ

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