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非破壊観察・故障解析

性能や寿命に係わる信頼性試験を受託します

各種信頼性試験の結果、故障や問題が発生した場合には、非破壊検査、表面分析、断面観察、脱ガス分析、雰囲気測定など融合化技術を駆使して、故障原因を解析いたします。

分析項目

非破壊観察
X線CT 超音波顕微鏡
エミッション顕微鏡 赤外(IR)顕微鏡
故障解析
加熱アウトガス分析 内封ガス分析
FIB-STEM-EDX AFM
TOF-SIMS XPS
AES FT-IR
EPMA XRD
非破壊観察・故障解析 非破壊観察・故障解析

技術事例

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分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームまたは電話・FAXにてお気軽にお問い合わせください。

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