ゼオライト｜触媒、粉体、カーボン、ゼオライト、その他多孔性材料｜機能性材料｜サービス

最高の分析技術で、細孔の未来を拓く。

規則性多孔性材料であるゼオライトは、吸着能をはじめイオン交換作用や触媒作用などの機能性を有し、様々な分野において利用されています。現在のところゼオライトには数百もの構造が確認されており、今尚、用途に応じた機能を付与するための研究開発が活発に進められております。住化分析センターは、固体触媒評価で培った、高度な細孔構造解析技術や固体酸性評価技術を駆使し、お客様のゼオライト研究開発、製品性能評価を支援いたします。

特徴/当社の強み

①高度なガス吸着解析技術の提供により、分子篩機能を発現するゼオライト細孔構造の理解に貢献いたします。
②昇温脱離法、FT-IRによる酸点の定性・定量分析により、ゼオライトの触媒能、イオン交換能の理解に貢献いたします。
③in situ XRDにより、温度・雰囲気を制御環境下におけるゼオライト結晶構造解析に貢献いたします。

分析項目

構造・組成

項目	分析手法・装置
形態観察（ミクロ、マクロ）	・走査型電子顕微鏡（SEM）・走査型透過電子顕微鏡（STEM）・X線CT ・光学顕微鏡
細孔径分布、細孔容積	・小角X線散乱（SAXS）・N2ガス吸着法・Arガス吸着法・モレキュラープローブ法・水銀圧入法
比表面積	・N2ガス吸着法・Arガス吸着法・Krガス吸着法
結晶構造	・X線回折（XRD）・ラマン分光法・高分解能透過型電子顕微鏡（TEM）
組成・不純物・付着物	・誘導結合プラズマ発光分光分析（ICP-AES）・誘導結合プラズマ質量分析（ICP-MS）・蛍光X線分析（WXRF、EDX）・電子スピン共鳴（ESR）・分析電子顕微鏡（SEM-EDX、TEM-EDX）・電子線マイクロ分析（EPMA）・灰分、水分・C、H、N、O、S、P分析（NCH計、ND-IR、燃焼法）・ハロゲン（イオンクロマトグラフ）
表面処理・官能基	・X線光電子分光分析（XPS）・赤外線分光分析（FT-IR）・ラマン分光法・Boehm法

ガス吸着・分離特性、その他物理特性

項目	分析手法・装置
吸着量、脱離量	・ガス吸着等温線（N2, Kr, Ar, トルエン、メタノール、CO2、H2O等)
吸着・拡散速度	・ガス吸着等温線（定容量法、重量法）
吸着熱量	・ガス吸着等温線（微分吸着熱）
表面ガス吸着サイト	・ガス吸着FT-IR （CO, NO, CO2、有機溶媒等）
悪臭等の低減性能	・アンモニアなど悪臭成分の低減性能の評価・吸湿特性の評価
イオン交換性能	・滴定法（IEC測定）・イオン交換後の水溶液の評価
強度・耐久性	・圧壊強度・摩耗率
強度・耐久性	・圧壊強度・摩耗率
粉体物性	・粒度分布（レーザー回折法、ふるい法など）・Carr.の流動性指数（かさ密度、安息角、圧縮度、スパチュラ角、凝集度、流動性、崩潰角、差角、分散度）
ガス分離特性	・ガス吸着等温線・ガス透過試験・GC-MS法
比熱	・DSC法・断熱法
熱伝導率	・レーザーフラッシュ法・熱線法

触媒・反応特性

項目	分析・評価装置
酸・塩基特性（強度、量、酸種）	・NH3-TPD（酸量）・ピリジン吸着IR（B酸、L酸）・固体NMR（Si/Al比）
触媒反応温度	・昇温還元法（TPR） ※ガス種は応相談・昇温酸化法（TPO）
反応生成物	・GC-MS
転化率、選択率	・マイクロリアクター
示差熱、熱重量、生成ガス	・熱重量-質量分析（TG-MS）
価数変化	・in situ XAFS
結晶構造変化	・in situ XRD-MS
吸着種	・in situ FT-IR

技術事例

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