安定性、長寿命化、生産性向上及び故障解析に必要な評価を複合的に提案・提供します。
要素材料の組成や劣化分析は表示デバイスの特性を向上させるためには重要な評価となります。また、製造環境の評価や信頼性試験などにより製品の品質向上及び故障原因解析など幅広くサポートをしております。
分析項目
| 評価項目 | 分析手法 |
|---|---|
| 断面構造観察 | EF-TEM |
| 結晶性評価 | SAXS、WAXS |
| 配向性評価 | XAS、ESR |
| 薄膜組成解析 | MALDI-TOF-MS、LC-FT-MS |
| 異常部解析 | ラマン、FIB-SEM、TEM |
| 内部発生ガス分析 | API-MS、GC-MS |
| 微量金属定量 | ICP-MS |
| 有機不純物解析 | LC-FT-MS |
技術事例
関連情報