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ガラス・石英の分析評価

ガラス・石英材料の高機能化を支援します。

フラットパネルなどのモジュール製品や、半導体製造装置の精密部品に使用される石英ガラスなどは、更なる高機能化が求められているため、多角的な分析が必要です。
汚染制御や組成の安定性向上のための不純物分析、熱物性、クラックや欠陥制御のための物性測定など、目的に応じた分析をご提案します。

分析項目

原料や製品に対し、不純物分析から欠陥・異物解析、光学特性、物性評価など様々な項目に対応します。

分析対象 分析項目 手法・測定装置
ガラス・石英原料 組成分析 ICP-MS、ICP-AES、AAS、XRF、水蒸気蒸留/IC
不純物分析 HR-ICP-MS、ICP-MS、ICP-AES、AAS、XRF、ESR、水蒸気蒸留/IC
構造解析 固体NMR
粒度分布 レーザー回折法、重力/遠心沈降法、電気抵抗法
粉体特性 流動性、噴流性
比表面積 窒素吸着法、水銀圧入法、ブレーン空気透過法
溶解性試験 溶解性試験
ガラス・石英製品 組成分析 ICP-MS、ICP-AES、AAS、XRF、水蒸気蒸留/IC
不純物分析 HR-ICP-MS、ICP-MS、ICP-AES、AAS、XRF、ESR、水蒸気蒸留/IC、SIMS
光学特性評価 分光透過/反射率、赤外分光透過/反射率、ヘイズ率
熱特性評価 粘性測定、TMA、TG-DTA、熱伝導率、熱収縮率
電気特性評価 イオン伝導度、表面抵抗、体積抵抗、絶縁抵抗、誘電特性、Liイオン伝導率測定
一般物性評価 歪み測定、比重測定
劣化・耐候性試験 耐候性試験、環境試験、化学的耐久試験、溶出試験
形態観察/分析 OM、SEM、SEM-EDX、STEM、TEM、TEM-EDX、TEM-EELSS、AFM
表面分析 TOF-SIMS、XPS、PAR-XPS、AFM、EPMA
状態分析 Raman、ESR
異物・気泡 Raman、FIB-SEM、FIB-TEM、EPMA、XRD
低レベルα線測定 低レベルα線測定装置
加熱発生ガス分析 API-MS、TG-MS、TPD、GC-MS

技術事例

お問い合わせ

分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームまたは電話・FAXにてお気軽にお問い合わせださい。

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