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手法から探す

多様な分析・試験手法を取り揃え、様々なご要望に対応いたします。

元素・組成分析

精密な前処理と測定により、様々な材料等の元素分析、組成解析を提案します。
<装置例>
プラズマ質量分析装置(ICP-MS)、プラズマ発光分析装置(ICP-AES、ICP-OES)、原子吸光分析装置(AAS)、蛍光X線分析装置(XRF)、元素分析装置、CHN計、窒素分析装置、イオンクロマトグラフ等、

分析メニュー

クロマト分析

多様な前処理や試料導入と分離分析装置との組み合わせにより、多様な要求に対応します。
<装置例>
ガスクロマトグラフ(GC)、ガスクロマトグラフ-質量分析計(GC-MS)、液体クロマトグラフ(HPLC)、液体クロマトグラフ-質量分析計(LC-MS)、ゲル浸透クロマトグラフ(GPC)、イオンクロマトグラフ(IC),イオンクロマトグラフー質量分析計(IC-MS)、イオンクロマトグラフ-プラズマ質量分析計(IC-ICP-MS)、キャピラリー電気得異動(CE),キャピラリー電気泳動-質量分析計(CE-MS)、薄層クロマトグラフ(TLC) など、

表面分析

電子材料、金属、セラミックス、触媒、物質などの表面、界面状態を分析します。また、物質の表面や界面に付着する異物分析の解明に役立ちます。
<装置例>
X線光電子分光分析装置(XPS/ESCA) 、オージェ電子分光分析装置(AES/SAM )、二次イオン質量分析装置(SIMS )、飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS )、電子線マイクロアナライザ(EPMA/XMA )、電解放射型走査電子顕微鏡-X線分析装置(FE-SEM-EDX )、

分析メニュー

形態観察

物質表面や界面状態を直接観察します。
<装置例>
透過電子顕微鏡(TEM)、走査電子顕微鏡(SEM )、原子間力顕微鏡(AFM )、光学顕微鏡(OM )、電解放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM)

分析メニュー

構造解析

複数の手法を組み合わせることで、各種材料やその中に含まれる未知物質などの構造決定をいたします。
<装置例>
有機質量分析装置(MS)、飛行時間型質量分析(TOF-MS )、核磁気共鳴分析装置(NMR )、可視・紫外分光分析装置(UV・VIS )、フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR )、レーザーラマン分光分析装置(RSS )、X線回折分析装置(XRD )、電子スピン共鳴分析装置(ESR )、顕微赤外分光分析装置(μ-FT-IR )、走査型顕微赤外分光分析装置(IRμS/SIRM)等、

分析メニュー

物性試験・機械試験

物質の性質に関わる試験法として、機械的感度、着火、燃焼性、燃焼速度、静電気特性、自然発火性、自己発熱試験、水との反応性試験、等、に対応いたします。

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熱分析

試料の熱的変化による熱物性に関する情報が得られます。加熱発生ガスを分析することにより、試料の化学構造に関する知見が得られます。
<装置例>
熱重量分析装置(TG)、示差熱分析装置(DTA )、示差走査熱量分析装置(DSC )、比熱測定装置、反応熱測定装置、蒸発熱測定装置、熱膨張率測定装置、熱伝導率測定装置、昇温離脱ガス質量分析装置(TDS)

その他、アプリケーション

<装置例>
低レベルのα線測定装置、ケミルミネッセンス測定、細孔径分布、表面積測定、等。

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お問い合わせ

分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームまたは電話・FAXにてお気軽にお問い合わせださい。

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