1. HOME
  2. サービス
  3. マテリアルサイエンス
  4. エレクトロニクス
  5. 有機エレクトロニクス
  6. デバイス総合解析

デバイス総合解析

製品状態からの物理構造および化学構造解析

有機ELデバイスは、多くの材料で構成されています。分析の目的に応じてデバイスを加工(解体、前処理)し、物理的な構造や化学的な構造を複数の手法を組み合わせて解析いたします。

分析項目

物理構造解析(層界面、膜厚、元素)
層界面、膜厚 FIB-SEM STEM
元素組成 SEM-EDS STEM-EDS
元素拡散 Backside-SIMS  
結品性 SAXS WAXS
配向性 XAS ESR
欠陥解析 STEM Raman
化学構造解析(有機成分、化学構造、位置)
有機成分特定 MALDI-TOF/MS  
精密構造解析 LC-FT/MSn 濃縮NMR
不純物解析 LC-FT/MSn  
劣化解析 MALDI-TOF/MS  
位置情報解析 GCIB-TOF-SIMS  

技術事例

お問い合わせ

分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームまたは電話・FAXにてお気軽にお問い合わせください。

受付時間
9:00 ~ 12:00 および 13:00~17:30(土日祝、年末年始、当社休業日をのぞく)
お電話
03-5689-1219
FAX
03-5689-1222