欠陥・劣化解析

透明部材／デバイスの欠陥・異物解析

ガラス／ITO膜などの透明材料や有機デバイスの欠陥・異物を試料非破壊の状態で検出・観察することが可能です。さらに高精度なマーキング技術を用いることで、位置を特定してより詳細な解析を進めることが可能です。

有機ELなどの異常発光部の解析は、非破壊状態で分析が可能なレーザーラマン分光分析などが有効です。その後、断面観察などの手法を用いることでさらに詳細な解析を進めることができます。