お問い合わせ

触媒

研究開発の活性障壁を乗り越える、信頼の触媒評価技術

固体触媒は、化学工業をはじめ、エネルギーや環境など様々な分野において重要な役割を果たしています。固体触媒の研究開発には、反応場における触媒と反応物の構造を解析し、反応メカニズムを推定するプロセスが欠かせません。住化分析センターは経験に裏打ちされた知見と各種分析手法の融合による、多角的な触媒キャラクタリゼーションサービスのご提供により、固体触媒の研究開発に貢献いたします。

特徴／当社の強み

1.

元素分析、形態観察、表面状態分析、固体・粉体物性、熱物性、反応特性など、触媒分析に必要な技術を幅広く取り揃えています。
2.

様々な受託分析で培った触媒解析ノウハウを活かし、お客様の固体触媒研究に貢献いたします。
3.

豊富な分析キャパシティにより、お客様の製品管理にかかる膨大なルーチン分析に対してもコストコンシャスなご提案をいたします。

分析項目

構造・組成

項目	分析手法・装置
形態観察（ミクロ、マクロ）	走査型電子顕微鏡（SEM）走査型透過電子顕微鏡（STEM） X線CT 光学顕微鏡
細孔径分布、細孔容積	小角X線散乱（SAXS） N2ガス吸着法 Arガス吸着法モレキュラープローブ法水銀圧入法
比表面積	N2ガス吸着法 Arガス吸着法 Krガス吸着法
結晶構造	X線回折（XRD）ラマン分光法高分解能透過型電子顕微鏡（TEM）
触媒組成不純物付着物	誘導結合プラズマ発光分光分析（ICP-AES）誘導結合プラズマ質量分析（ICP-MS）蛍光X線分析（WXRF、EDX）分析電子顕微鏡（SEM-EDX、TEM-EDX）電子線マイクロ分析（EPMA）灰分、水分 C、H、N、O、S、P分析（NCH計、ND-IR、燃焼法）ハロゲン（イオンクロマトグラフ）
金属表面積、分散度	化学吸着法（CO、H2、N2Oなど）
金属価数	X線光電子分光分析（XPS） X線吸収微細構造（XAFS） X線回折（XRD）電子スピン共鳴法（ESR） ※ 雰囲気前処理が可能です。
前処理	所定の雰囲気温度で触媒の前処理が可能です。（大気非開放でXPS、TEM、SEMなどへのサンプル移送ができます。）

ガス吸着特性、その他物性

項目	分析手法・装置
吸着量、脱離量	ガス吸着等温線（N2、Kr、Ar、トルエン、メタノール、CO2、H2O等）
吸着拡散速度	ガス吸着等温線（定容量法、重量法）
吸着熱量	ガス吸着等温線（微分吸着熱）
表面ガス吸着サイト	ガス吸着FT-IR（CO、NO、CO2、低沸点有機溶媒等）
粉体物性	粒度分布（レーザー回折法、ふるい法、画像解析法など） Carr.の粉体指数（かさ密度、安息角、圧縮度、スパチュラ角、凝集度、流動性、崩潰角、差角、分散度）形状特性評価（画像解析法）
比熱	DSC法断熱法
熱伝導率	レーザーフラッシュ法熱線法

触媒・反応特性

項目	分析手法・装置
酸・塩基特性（強度、量、酸種）	NH3-TPD（酸量）ピリジン吸着IR（B酸、L酸）固体NMR（Si/Al比）
触媒反応温度	昇温還元法（TPR）昇温酸化法（TPO） ※ ガス種は応相談
反応生成物	GC-MS
転化率、選択率	マイクロリアクター
示差熱、熱重量、生成ガス	熱重量-質量分析（TG-MS）
価数変化	in situ XAFS
結晶構造変化	in situ XRD-MS
吸着種	in situ FT-IR

この他、各種物性測定についてもご相談ください。

関連技術

技術事例

お問い合わせ・ご相談

お問い合わせフォーム