半導体デバイス
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TN339
TOF-SIMSによる３次元分析
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TN288
TOF-SIMSによる広領域マッピング
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TN333
シリコンウェーハ局所部位中の金属不純物分析
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TN042
誘導結合プラズマ質量分析法による シリコンウェーハ表層の金属不純物分析
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TN187
非Si 系薄膜中の金属不純物分析
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TN095
電子デバイス製造関連部材からのアウトガス分析
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TN522
熱マネジメントのための熱伝導率測定 ～レーザーフラッシュ法～
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TN512
熱輻射特性評価：熱量法による全放射率測定
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TN506
減圧過程において発生するアウトガス評価
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TN070
液晶組成物の構造解析
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TN176
シリコンウェーハ表面の酸/塩基不純物分析
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TN334
石英ガラス部材中の金属不純物分析法
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TN430
真空環境下で発生する部材からのアウトガス評価
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TN027
黒鉛中微量元素の定量
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TN485
微小領域の組成・構造の可視化 ～顕微ラマン分光法によるイメージング分析～
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TN484
各種材料設計のための高感度TMAによる線膨張率の精密測定
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TN452
冷却FIB法を用いた有機半導体材料の結晶性評価
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TN448
大気圧イオン化質量分析計を用いた加熱脱離ガス分析（TDS-API-MS）
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TN438
固体ｻﾝﾌﾟﾗｰBremS®による気中の酸・塩基性成分の評価
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TN289
5軸ステージを活用したTOF-SIMS分析
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TN165
TOF-SIMSによるCu-CMP後洗浄したウェーハ表面評価
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TN060
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
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TN148
XPSによるCu-CMP後洗浄したウェーハ表面評価
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TN425
密閉空間内のガス分析
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TN178
クリーンルーム構成材料から発生するアミン類のCE/MS分析
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TN177
シリコンウェーハ表面への酸/塩基成分の付着挙動
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TN045
クリーンルーム空気中の微量物質の分析
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TN033
XPSによる酸化膜厚の測定
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TN002
XPSによる未知試料の組成分析
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TN409
電子顕微鏡による有機半導体の積層構造評価
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TN408
TOF-SIMSによるアウトガス汚染評価
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TN405
TOF-SIMSによるウォーターマークの定性分析
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TN403
バルクヘテロ接合型有機薄膜太陽電池の電子顕微鏡観察
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TN347
太陽電池用シリコン最表面の微量成分分析
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TN373
放熱材料の熱伝導率測定
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TN331
GC-TOFMSを用いた液晶の構造解析
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TN050
高純度石英中の不純物の定量分析
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TN049
ファインセラミックス中の不純物の定量分析
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TN253
EPMAによる微小領域の化学状態分析
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TN203
ミニエンバイロメントの評価技術 －ウェーハ付着有機物（FOSBの開閉及び保管試験）－
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TN028
顕微FT-IRによるウェーハ上付着物の分析
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TN063
クリーンルーム空気中の清浄度評価
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TN075
液晶ディスプレイ [ マイクロマニピュレータによる異物の解析]
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TN043
BPSGおよびPSG膜の化学分析
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