2002-Ⅰ号(Vol.15)

概要
発行日 2002年01月24日
特集構造
目次
提言
三代目におけるイノベーション
大阪大学大学院 基礎工学研究科教授 戸部 義人 様
TALK ABOUT 21-NMRによる立体配置の帰属-
天然分子の最先端構造解析
大阪大学大学院 理学研究科教授 村田 道雄 様
SCAS FRONTIER REPORTⅠ -分析技術最前線-
有機化合物の分子構造解析
- 構造解析手法の概要
- 各機器分析法と応用
森口 宏一
梅木 卓
SCAS FRONTIER REPORTⅡ -分析技術最前線-
高分子材料の内部構造観察
- 観察手順
- TEM
- 包埋固定
- 超薄切片作成
- 染色処理
- 像傷害
岡村 稔
SCAS NOW 新分析技術·新分析装置紹介
ダイオキシン類測定の精度管理
菊池 貴也
主な投稿論文・口頭発表等
- 地質汚染とその調査技術-ある調査事例を参考に-
- 高性能窒素・炭素測定装置スミグラフNCシリーズ
- CMP工程の薬液汚染を徹底解明 早期立ち上げと低コスト化に有効
- 清浄度評価技術で半導体の超微細化技術を支援
- 部材からのアウトガスを徹底研究-正確な評価はダメージ回避に必須-
- ICP-MSによるクリーンルーム空気中のホウ素の超微量定量と存在形態の考察
- 低分子系キラル固定相におけるスペーサー構造の分離能に与える影響
- キラルな擬クラウンエーテルを化学結合したキラル固定相の基本特性
- インクジェットフォトメディアの構造・組成解析技術
- Determination of alkyl phthalates in indoor and outdoor environments
- Evaluation of chemical compounds emitted from building materials of actually built rooms
- 分子状汚染物質(Airborne Molecular Contaminants:AMCS)の有機概念図上での検討
- 新規な室内空気中のホルムアルデヒドサンプラー
- 土壌中の揮発性有機化合物(VOC)測定の不確かさ推定
- 半導体基礎講座 クリーンルーム空気の清浄度の管理
- 国際的な品質保証システムと農薬GLP
- におい評価技術
- クリーンルームにおける微量揮発成分の分析
- 新規アルデヒドサンプラー(TFBAカートリッジ)の開発
- 民間分析業における微量金属の分析例
- Analysis of condensed dusts from the heavy oil combustion using TOF-SIMS
- Evaluation of Cu-CMP Process by TOF-SIMS and XPS
TOPICS
- 日本分析化学会から「2001年度有功賞」を受賞しました
- ISO14001登録
- CE/MS導入
- アルデヒド捕集カートリッジ(スミキャッチA)新発売
- FIBの増設
- 四重極SIMSの導入
法律ウオッチャー
ISO規格の動向
佐々木 正夫
随筆
成長と調和
山内 成樹
編集後記
- ※所属名は発行当時のものです。
- ※SCAS NEWS に掲載されている情報は発行当時のものです。記載されているサービスは、既に取り扱っていない場合もございますので、ご了承ください。
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