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住化分析センターは、2018年12月5日（水）から12月7日（金）の3日間、幕張メッセにて開催される「第28回 液晶・有機EL・センサ技術展（ファインテック ジャパン）」に出展いたします。

ディスプレイ、有機エレクトロニクス、センサなどの分野で求められる高い信頼性の評価を中心に特徴ある最新の評価技術を紹介いたします。
今回の展示会では、当社新技術ALD-TEMを用いた超微細構造評価やMALDI-TOF-MSを用いた表面改質膜の構造解析を始めとし、その他、様々な分析・評価をご紹介します。

ぜひお気軽にお立ち寄りください。
みなさまのご来場を心よりお待ちしております。