1. HOME
  2. 技術資料
  3. Technical News(技術事例)
  4. 素材・工業製品分析

素材・工業製品分析

タイトル 整理番号
ARC を用いた熱暴走危険性評価 NEW TN443
水銀圧入法を用いた細孔分布測定 NEW TN133
粒径分布測定[電気抵抗/コールターカウンター式] NEW TN130
ガラス中にドープされた金属元素のESR による価数評価 NEW TN462
高精度CHN元素分析 TN101
低ブリードHPLC カラム“SUMIPAX® ODS Z-CLUE” TN375
アミン類の光学活性体の分離 - 化学結合型クラウンエーテルカラムの活用 - TN260
気体置換法による粒子密度の測定 TN164
放射光X線CTによる冷凍試料中の組織構造観察 TN496
レーザー誘起ブレークダウン分光法(LIBS)の紹介 TN517
導電性ペーストの熱物性測定と総合解析 TN516
Kendrick Mass Defectプロットを用いた混合有機化合物の構造解析 TN514
冷熱衝撃試験 TN317
製品・材料の燃焼ガスおよび加熱発生ガスの分析 TN509
画像解析による粒子の形状特性評価 TN511
粒径分布測定 [画像解析式] TN510
キラル固定相の選択法 TN507
示差走査熱量測定を用いた高分子材料の評価 TN505
X線小角散乱を用いた構造解析 TN502
窒素ガス吸着法による比表面積、細孔分布測定 TN132
熱可塑性樹脂の成形および物性評価 TN501
ガス吸着測定装置による真密度測定 TN498
LC-MS/MSによる化粧品成分の高感度・高分離定量 TN500
温度調節クライオ(冷却)Arイオンミリング法による無機粒子含有ゴムの断面SEM観察 TN432
有機化合物の分取・構造解析 TN488
誘導結合プラズマ質量分析法による超微量元素分析 TN051
黒鉛中微量元素の定量 TN027
微小領域の組成・構造の可視化 ~顕微ラマン分光法によるイメージング分析~ TN485
各種材料設計のための高感度TMAによる線膨張率の精密測定 TN484
化学発光法による微量窒素の定量 TN482
固体・粉体の炭素・硫黄定量分析(燃焼-赤外線吸収法) TN480
ICP-AESによる金属元素定量分析 TN023
液化石油ガス(LPG)の成分試験 TN479
LC-FTMSを用いた精密質量分析による未知化合物の構造解析 TN478
潤滑油の組成分析 TN477
自動車用燃料・オイル・デポジットの評価技術 TN475
銅イオン交換ゼオライトの酸点評価 TN474
電子スピン共鳴(ESR)法による高分子材料の評価 TN463
昇温反応法による固体触媒のキャラクタリゼーション TN461
XPSによる固体試料の表面修飾評価 TN458
雰囲気制御X線回折による結晶構造解析 TN457
吸着等温線を用いた等量微分吸着熱測定 TN456
低加速SEMによる微粒子最表面の観察 TN454
冷却FIB法を用いた有機半導体材料の結晶性評価 TN452
TG-DTAを用いた反応性解析 TN446
界面活性剤成分の構造解析 TN445
可燃性粉体の危険性評価 TN444
XPSによる高分子材料表面の官能基評価 TN442
高分解能SEMによるPt触媒の最表面と内部の観察 TN434
MALDI-SpiralTOF/MSによる高分解能質量分析 TN431
窒素酸化物、硫黄酸化物の吸着評価 TN427
熱分解GC/MSによる異物の詳細解析 TN426
CP加工-FE-SEMによる塗工紙断面の観察 TN419
MIKE3による粉じん爆発最小着火エネルギー測定 TN412
高生理活性物質の粉じん爆発試験 TN411
TOF-SIMSによるガラス表面の広領域マッピング TN407
TOF-SIMSによるフッ素系表面改質剤の定性分析 TN406
TOF-SIMSによるウォーターマークの定性分析 TN405
自動車排出ガス用触媒の熱伝導率測定 TN404
有機フッ素化合物の定量 TN399
粒径分布測定[乾式篩法] TN379
パルス法NMRによるエポキシ樹脂の物性評価 TN378
熱重量測定-質量分析 TN374
恒温壁熱量計(RADEX)による熱安定性評価 TN366
材料の水分吸着脱離特性評価 TN344
自動車部品から発生する揮発性有機化合物放散測定法 TN342
差吸着等温線を用いた化学吸着、物理吸着の分別評価 TN338
医薬品混入異物の定性分析(その2) TN329
医薬品混入異物の定性分析(その1) TN328
ケミルミネッセンスによる高分子材料の酸化劣化評価 TN324
ケミルミネッセンスによる有機化合物の酸化劣化評価 TN323
固体NMRによるシリカの化学結合状態解析 TN319
X線CT観察による試料内部の空孔率及びフィラー等の含有率測定 TN318
収差補正電子顕微鏡を用いた材料評価 TN304
SUMICHIRAL OAによるピレスロイド系農薬の光学異性体分離 TN268
配位子交換型カラムを用いた光学異性体分離 -生分解性プラスチックモノマーの光学純度測定- TN265
SUMICHIRAL OA-7000系カラムによるフルオラスタグ化合物の分離 TN263
SUMIPAX Filterの性能と利用法 TN262
光学異性体の溶出順逆転カラムの活用 TN259
Pirkle改良型カラムによるD-アミノ酸の測定法 TN257
スペーサー改良型シクロデキストリンカラムの特長 TN256
HPLC配位子交換型キラル固定相の製品性能比較(アスパラギン酸) TN255
EPMAによる微小領域の化学状態分析 TN253
水蒸気吸着等温線による表面特性の評価 TN249
EPMAによる微量炭素分析 TN245
包装材料などの水蒸気透過度測定 TN243
乳飲料および果汁飲料の全窒素(たんぱく質)測定例 TN240
豚肉および魚肉加工品の全窒素(たんぱく質)測定例 TN239
豆類「粒&粉砕品」の全窒素、全炭素測定例 TN238
中華即席めん&うどん等の全窒素(たんぱく質)測定例 TN237
水溶液調製試料の全窒素、全炭素測定例 TN236
食パンおよび原料などの全窒素(たんぱく質)測定例 TN235
菓子類および原料などの全窒素(たんぱく質)測定例 TN234
ビール等アルコール飲料の全窒素(たんぱく質)測定例 TN233
種実類「粒および粉砕品」の全窒素(たんぱく質)測定例 TN232
藻類および魚加工食品の全窒素(たんぱく質)測定例 TN231
乳加工食品の全窒素(たんぱく質)測定例 TN230
植物体等の全窒素、全炭素、灰分同時測定例 TN229
食塩添加試料の全窒素(たんぱく質)連続測定性能 TN228
食塩添加試料の全窒素(たんぱく質)測定実施例 TN227
MO樹脂等の全窒素、全炭素、灰分同時測定例 TN226
NIST生物標準試料の全窒素測定例 TN225
有機硫黄化合物の連続測定性能 TN224
有機硫黄化合物の全窒素、全炭素測定例 TN223
有機元素分析用試薬の測定性能 TN222
各種有機化合物試薬の測定性能 TN221
ケルダール法との比較分析例(4) TN220
ケルダール法との比較分析例(3) TN219
ケルダール法との比較分析例(2) TN218
ケルダール法との比較分析例(1) TN217
穀物「粒&粉砕品」の全窒素、全炭素測定例 TN216
穀物類の全窒素、全炭素、灰分同時測定例 TN215
穀物類の全窒素、全炭素測定実施例 TN214
感度経時変化および補正実施例 TN213
各種アミノ酸の全窒素、全炭素測定性能(2) TN212
各種アミノ酸の全窒素、全炭素測定性能(1) TN211
有機ハロゲン化合物および有機硫黄化合物の全窒素、全炭素測定例 TN210
有機ハロゲン化合物および有機硫黄化合物の連続測定性能 TN209
有機硫黄化合物および有機ハロゲン化合物の全窒素、全炭素測定性能 TN208
in-situ FT-IR測定による触媒性能の評価 TN185
EPMA,SEMを用いた歴史的建造物の評価 TN174
EPMA,XRDによる建築部材の解析 TN173
電解脱離質量分析法 TN169
TOF-SIMSによる自動車塗膜断面の分析 TN166
粒径分布測定[レーザー回折/光散乱] TN161
TOF-SIMSによるシリカ粒子断面マッピング TN153
TOF-SIMSによるラップフィルム表面の添加剤分析 TN152
TOF-SIMSによるPVCフィルム中フィッシュアイの分析 TN151
ペンダントドロップ法による表面・界面張力測定 TN142
画像処理方式による接触角測定 TN141
振動式密度測定 TN139
赤外分光法によるB酸点とL酸点の識別 TN137
固体触媒の酸・塩基性測定 (昇温脱離法(TPD)) TN136
パルス吸着法を用いた担持金属触媒の金属表面積測定 TN135
粉体特性の数的評価法 TN134
ダブルショット法による高分子材料の解析 TN100
ポリウレタン系接着剤の構造解析 TN099
高分子中の添加剤の分析 TN098
有機化合物中の微量「硫黄/ハロゲン」測定 TN093
染顔料の構造解析 TN081
印刷インキ類の組成物解析 TN069
高分子材料の組成解析 TN068
電子工業用薬品中の微量金属不純物定量法 TN066
グロー放電質量分析法(GD-MS) TN061
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS) TN060
ファインセラミックス中の不純物の定量分析 TN049
FT-IR法の赤外全反射吸収スペクトル法による構造解析 TN022
FT-IR法の反射法による表面構造解析 TN020

お問い合わせ

分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームまたは電話・FAXにてお気軽にお問い合わせください。

受付時間
9:00 ~ 12:00 および 13:00~17:30(土日祝、年末年始、当社休業日をのぞく)
お電話
03-5689-1219
FAX
03-5689-1222