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電子機器・材料・デバイス

タイトル 整理番号
導電性ペーストの熱物性測定と総合解析 NEW TN516
Kendrick Mass Defectプロットを用いた混合有機化合物の構造解析 NEW TN514
冷熱衝撃試験 NEW TN317
S8ガスによる車載電子機器のガス腐食試験 TN513
熱輻射特性評価:熱量法による全放射率測定 TN512
画像解析による粒子の形状特性評価 TN511
粒径分布測定 [画像解析式] TN510
示差走査熱量測定を用いた高分子材料の評価 TN505
液晶組成物の構造解析 TN070
シリコンウェーハ表面の酸/塩基不純物分析 TN176
ガス吸着測定装置による真密度測定 TN498
石英ガラス部材中の金属不純物分析法 TN334
AFMによる表面微細構造測定 TN499
温度調節クライオ(冷却)Arイオンミリング法による無機粒子含有ゴムの断面SEM観察 TN432
4Dラミノグラフィによる電極スラリー乾燥過程の可視化 TN494
リチウムイオン電池電極の3次元空隙ネットワーク解析と薄板積層模型の作製 TN493
軟X線吸収分光(XAS)による有機薄膜の分子配向評価 TN492
リチウムイオン電池のin situ XRD測定 TN491
有機化合物の分取・構造解析 TN488
改訂RoHS 指令対象全10 物質の定量分析 TN322
固体材料の高感度α線測定 TN026
誘導結合プラズマ質量分析法による超微量元素分析 TN051
黒鉛中微量元素の定量 TN027
微小領域の組成・構造の可視化 ~顕微ラマン分光法によるイメージング分析~ TN485
各種材料設計のための高感度TMAによる線膨張率の精密測定 TN484
ICP-AESによる金属元素定量分析 TN023
Liイオン二次電池 内部ガスのオンライン分析 TN469
冷却FIB法を用いた有機半導体材料の結晶性評価 TN452
大気圧イオン化質量分析計を用いた加熱脱離ガス分析(TDS-API-MS) TN448
Liイオン二次電池 (電解液反応生成物の空間分布) TN441
Liイオン二次電池 (正極活物質の劣化構造評価) TN440
Li イオン二次電池 (セパレータの細孔構造評価) TN433
密閉空間内のガス分析 TN425
Liイオン電池 (電極反応分布のin situ断面観察)
—Ⅲ. 安全性向上へ向けたLiデンドライト発生過程の解析—
TN424
Liイオン二次電池 (電極反応分布のin situ断面観察)
—Ⅱ. 電極内Liイオン拡散の直接観察—
TN423
Liイオン二次電池 (電極反応分布のin situ断面観察)
—Ⅰ. 充放電による電極色変化のリアルタイム観察—
TN422
Liイオン二次電池(EPMAによるCo系正極バインダーの分布状態観察) TN418
差圧法による水蒸気透過度測定 TN417
同時角度分解光電子分光分析法(PAR-XPS) TN414
同時角度分解光電子分光分析法による薄膜の評価 TN413
φ450mmシリコンウェーハ表面の金属不純物分析 TN410
電子顕微鏡による有機半導体の積層構造評価 TN409
バルクヘテロ接合型有機薄膜太陽電池の電子顕微鏡観察 TN403
放熱材料の熱伝導率測定 TN373
高分子材料の光、酸化、熱劣化評価 ~UV-Py-GC/MS~ TN349
シリコン系太陽電池材料中の金属不純物分析 TN348
太陽電池用シリコン最表面の微量成分分析 TN347
太陽電池用封止樹脂の劣化評価 TN346
薄膜シリコン系太陽電池セルの評価 TN345
TOF-SIMS による3次元分析 TN339
シリコンウェーハ局所部位中の金属不純物分析 TN335
水平型基板検査装置を用いたウェーハエッジ・ベベル部の分析 TN333
GC-TOFMSを用いた液晶の構造解析 TN331
表面実装部品の半田継手せん断強度試験方法 TN330
燃料電池用・炭化水素系高分子電解質膜の劣化解析 TN311
CP加工-FE-EPMAによる燃料電池用MEA断面の観察 TN310
X線マイクロCTによる燃料電池用MEAの層構造観察 TN309
収差補正電子顕微鏡を用いた高分解能観察 TN306
収差補正電子顕微鏡を用いた材料評価 TN304
Li イオン二次電池(X線回折法(XRD)による正極活物質の構造解析) TN295
Li イオン二次電池(CP加工-FE-EPMAによる電極断面の観察) TN294
Li イオン二次電池(CP加工-FE-SEMによる電極断面の観察) TN293
Li イオン二次電池(X線マイクロCTによる非破壊観察) TN292
Li イオン二次電池(分析法概要) TN291
5軸ステージを活用したTOF-SIMS分析 TN289
TOF-SIMSによる広領域マッピング TN288
EPMAによる微小領域の化学状態分析 TN253
高分解能誘導結合プラズマ質量分析法によるシリコンウェーハ表層酸化膜中のりん分析 TN192
HDD関連材料の汚染評価技術 TN188
非Si系薄膜中の金属不純物分析 TN187
極薄酸窒化ゲート絶縁膜の評価 TN184
四重極型2次イオン質量分析装置の紹介 TN183
シリコンウェーハ表面への酸/塩基成分の付着挙動 TN177
TOF-SIMSによるCu-CMP後洗浄したウェーハ表面評価 TN165
XPSによるCu-CMP後洗浄したウェーハ表面評価 TN148
半導体材料のアウトガス分析 TN095
液晶ディスプレイ [ マイクロマニピュレータによる異物の解析] TN075
グロー放電質量分析法(GD-MS) TN061
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS) TN060
高純度石英中の不純物の定量分析 TN050
BPSGおよびPSG膜の化学分析 TN043
シリコンウェーハ表層の金属不純物分析 TN042
XPSによる酸化膜厚の測定 TN033
ポリイミド膜ウェーハのC・H・N元素分析 TN032
顕微FT-IRによるウェーハ上付着物の分析 TN028

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