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構造解析

あらゆる産業、工業分野から創出される新規化学物質、新素材、不純物、反応生成物や医薬分野での生体中での代謝物などの構造決定に役立ちます。

※核磁気共鳴分析装置(NMR)、有機質量分析装置(MS)、飛行時間型質量分析装置(TOF-MS)、可視・紫外分光分析装置(UV・VIS)、フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)、顕微赤外分光分析装置(μ-FT-IR)、走査型顕微赤外分光分析装置(IRμS/SIRM)、レーザーラマン分光分析装置(RSS)、電子スピン共鳴分析装置(ESR)、X線回折分析装置(XRD)、X線吸収微細構造解析装置(XAFS)、その他

タイトル 整理番号
レーザー誘起ブレークダウン分光法(LIBS)の紹介 NEW TN517
Kendrick Mass Defectプロットを用いた混合有機化合物の構造解析 TN514
液晶組成物の構造解析 TN070
X線小角散乱を用いた構造解析 TN502
燃料成分の網羅的解析と硫黄化合物の極微量分析 TN503
温度調節クライオ(冷却)Arイオンミリング法による無機粒子含有ゴムの断面SEM観察 TN432
加熱セルを用いた溶融ガラスのXAFS測定 TN495
リチウムイオン電池電極の3次元空隙ネットワーク解析と薄板積層模型の作製 TN493
軟X線吸収分光(XAS)による有機薄膜の分子配向評価 TN492
リチウムイオン電池のin situ XRD測定 TN491
有機化合物の分取・構造解析 TN488
微小領域の組成・構造の可視化 ~顕微ラマン分光法によるイメージング分析~ TN485
LC-FTMSを用いた精密質量分析による未知化合物の構造解析 TN478
潤滑油の組成分析 TN477
自動車用燃料・オイル・デポジットの評価技術 TN475
雰囲気制御X線回折による結晶構造解析 TN457
界面活性剤成分の構造解析 TN445
MALDI-SpiralTOF/MSによる高分解能質量分析 TN431
バルクヘテロ接合型有機薄膜太陽電池の電子顕微鏡観察 TN403
X線CT及びTOF-SIMSによる錠剤内部イメージング TN369
アミノ酸分析によるバイオ医薬品の品質規格試験 TN365
太陽電池用封止樹脂の劣化評価 TN346
医薬品混入異物の定性分析(その2) TN329
異物の定性分析 -顕微FT-IRイメージング- TN327
ポリマーフィルムの評価 -顕微FT-IRイメージング- TN326
固体NMRによるシリカの化学結合状態解析 TN319
X線CT観察による試料内部の空孔率及びフィラー等の含有率測定 TN318
燃料電池用・炭化水素系高分子電解質膜の劣化解析 TN311
Li イオン二次電池(X線回折法(XRD)による正極活物質の構造解析) TN295
Li イオン二次電池(X線マイクロCTによる非破壊観察) TN292
Li イオン二次電池(分析法概要) TN291
HDD関連材料の汚染評価技術 TN188
in-situ FT-IR測定による触媒性能の評価 TN185
EPMA,SEMを用いた歴史的建造物の評価 TN174
EPMA,XRDによる建築部材の解析 TN173
電解脱離質量分析法 TN169
TOF-SIMSによるPVCフィルム中フィッシュアイの分析 TN151
赤外分光法によるB酸点とL酸点の識別 TN137
ダブルショット法による高分子材料の解析 TN100
ポリウレタン系接着剤の構造解析 TN099
高分子中の添加剤の分析 TN098
医薬品の結晶多形解析 TN097
医薬品の構造解析(位置異性体) TN090
染顔料の構造解析 TN081
液晶ディスプレイ [ マイクロマニピュレータによる異物の解析] TN075
印刷インキ類の組成物解析 TN069
高分子材料の組成解析 TN068
フーリエ変換NMR法[二次元NMR法] TN057
XPSによる酸化膜厚の測定 TN033
FT-IR法の赤外全反射吸収スペクトル法による構造解析 TN022
FT-IR法の反射法による表面構造解析 TN020
天然物の構造解析 TN017
MALDI-TOF/MSの医薬品分析への応用 TN015

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