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劣化・故障・異物解析

タイトル 整理番号
導電性ペーストの熱物性測定と総合解析 TN516
Kendrick Mass Defectプロットを用いた混合有機化合物の構造解析 TN514
S8ガスによる車載電子機器のガス腐食試験 TN513
熱輻射特性評価:熱量法による全放射率測定 TN512
画像解析による粒子の形状特性評価 TN511
粒径分布測定 [画像解析式] TN510
示差走査熱量測定を用いた高分子材料の評価 TN505
燃料成分の網羅的解析と硫黄化合物の極微量分析 TN503
有機化合物の分取・構造解析 TN488
微小領域の組成・構造の可視化 ~顕微ラマン分光法によるイメージング分析~ TN485
各種材料設計のための高感度TMAによる線膨張率の精密測定 TN484
LC-FTMSを用いた精密質量分析による未知化合物の構造解析 TN478
潤滑油の組成分析 TN477
電子スピン共鳴(ESR)法による高分子材料の評価 TN463
Liイオン二次電池 (正極活物質の劣化構造評価) TN440
熱分解GC/MSによる異物の詳細解析 TN426
高分子材料の光、酸化、熱劣化評価 ~UV-Py-GC/MS~ TN349
太陽電池用封止樹脂の劣化評価 TN346
医薬品混入異物の定性分析(その2) TN329
医薬品混入異物の定性分析(その1) TN328
ケミルミネッセンスによる高分子材料の酸化劣化評価 TN324
ケミルミネッセンスによる有機化合物の酸化劣化評価 TN323
燃料電池用・炭化水素系高分子電解質膜の劣化解析 TN311
液晶ディスプレイ [ マイクロマニピュレータによる異物の解析] TN075
XPSによるSUSパイプの深さ方向分析 TN008
XPSによる未知試料の組成分析 TN002

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