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劣化・故障・異物解析

タイトル 整理番号
微小領域の組成・構造の可視化 ~顕微ラマン分光法によるイメージング分析~ TN485
各種材料設計のための高感度TMAによる線膨張率の精密測定 TN484
LC-FTMSを用いた精密質量分析による未知化合物の構造解析 TN478
潤滑油の組成分析 TN477
電子スピン共鳴(ESR)法による高分子材料の評価 TN463
Liイオン二次電池 (正極活物質の劣化構造評価) TN440
熱分解GC/MSによる異物の詳細解析 TN426
高分子材料の光、酸化、熱劣化評価 ~UV-Py-GC/MS~ TN349
太陽電池用封止樹脂の劣化評価 TN346
医薬品混入異物の定性分析(その2) TN329
医薬品混入異物の定性分析(その1) TN328
異物の定性分析 -顕微FT-IRイメージング- TN327
ケミルミネッセンスによる高分子材料の酸化劣化評価 TN324
ケミルミネッセンスによる有機化合物の酸化劣化評価 TN323
燃料電池用・炭化水素系高分子電解質膜の劣化解析 TN311
FIB-AESによるLSIチップの断面分析 TN287
オージェ電子分光法 TN284
ステンレス鋼の材料評価(しゅう酸エッチング試験方法) TN269
液晶ディスプレイ [ マイクロマニピュレータによる異物の解析] TN075
液晶ディスプレイ劣化解析(TOF-SIMS法による配向膜の解析) TN072
XPSによるSUSパイプの深さ方向分析 TN008
XPSによる未知試料の組成分析 TN002

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