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表面分析

電子材料、金属、セラミックス、触媒、物質などの表面、界面状態を分析します。また、物質の表面や界面に付着する異物分析の解明に役立ちます。

※二次イオン質量分析装置(SIMS)、飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)、X線光電子分光分析装置(XPSまたはESCA)、走査型オージェ電子分光分析装置(AES/SAM)、電子線マイクロアナライザ(EPMAまたはXMA)、電解放射型走査電子顕微鏡-X線分析装置(FE-SEM-EDX)、昇温脱離ガス質量分析(TDS)、低レベルのα線測定装置、その他

タイトル 整理番号
微小領域の組成・構造の可視化 ~顕微ラマン分光法によるイメージング分析~ TN485
XPSによる固体試料の表面修飾評価 TN458
原子間力顕微鏡(AFM)による毛髪の表面形状評価 TN453
XPSによる高分子材料表面の官能基評価 TN442
Liイオン二次電池(EPMAによるCo系正極バインダーの分布状態観察) TN418
同時角度分解光電子分光分析法(PAR-XPS) TN414
同時角度分解光電子分光分析法による薄膜の評価 TN413
TOF-SIMSによるアウトガス汚染評価 TN408
TOF-SIMSによるガラス表面の広領域マッピング TN407
TOF-SIMSによるフッ素系表面改質剤の定性分析 TN406
TOF-SIMSによるウォーターマークの定性分析 TN405
X線CT及びTOF-SIMSによる錠剤内部イメージング TN369
TOF-SIMS による3次元分析 TN339
医薬品混入異物の定性分析(その2) TN329
医薬品混入異物の定性分析(その1) TN328
CP加工-FE-EPMAによる燃料電池用MEA断面の観察 TN310
燃料電池の分析法概要 TN308
Li イオン二次電池(CP加工-FE-EPMAによる電極断面の観察) TN294
Li イオン二次電池(分析法概要) TN291
5軸ステージを活用したTOF-SIMS分析 TN289
TOF-SIMSによる広領域マッピング TN288
EPMAによる微小領域の化学状態分析 TN253
ミクロ金属組織の分析 TN248
EPMAによる微量炭素分析 TN245
SIMSによる低ドーズ量イオン注入の高精度評価 TN186
極薄酸窒化ゲート絶縁膜の評価 TN184
四重極型2次イオン質量分析装置の紹介 TN183
Backside SIMSの技術紹介 TN180
EPMA,SEMを用いた歴史的建造物の評価 TN174
EPMA,XRDによる建築部材の解析 TN173
TOF-SIMS によるリンスした毛髪の分析 TN168
TOF-SIMSによる自動車塗膜断面の分析 TN166
TOF-SIMSによるCu-CMP後洗浄したウェーハ表面評価 TN165
TOF-SIMSによるシリカ粒子断面マッピング TN153
TOF-SIMSによるラップフィルム表面の添加剤分析 TN152
TOF-SIMSによるPVCフィルム中フィッシュアイの分析 TN151
XPSによるCu-CMP後洗浄したウェーハ表面評価 TN148
染顔料の構造解析 TN081
液晶ディスプレイ [ マイクロマニピュレータによる異物の解析] TN075
液晶ディスプレイ(XPSによる配向膜の分析) TN073
液晶ディスプレイ劣化解析(TOF-SIMS法による配向膜の解析) TN072
印刷インキ類の組成物解析 TN069
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS) TN060
原子間力顕微鏡(AFM)のご紹介 TN053
顕微FT-IRによるウェーハ上付着物の分析 TN028
XPSによるSUSパイプの深さ方向分析 TN008
XPSによる未知試料の組成分析 TN002

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