1. HOME
  2. 技術資料
  3. Technical News（技術事例）
  4. 元素･組成分析

元素･組成分析

あらゆる産業、工業分野で開発された材料の分析、製造工程・生産活動に係わる製品の純度・成分・不純物・排出ガスや排水など物質の組成を分析します。

※吸光光度分析装置、発光分光分析装置（AES）、原子吸光分析装置（AAS/FL-AAS）、プラズマ発光分析装置（ICP-AES）、プラズマ質量分析装置（ICP-MS）、蛍光X線分析装置（XRF）、有機元素分析装置、グロー放電質量分析装置（GDMS）、粒子組成分析装置、微量全窒素自動分析装置（TN）、高感度窒素炭素分析装置（NC）、その他

タイトル 整理番号
高分子材料の組成解析 NEW TN068
EPMA、XRDによる建築材料の分析 NEW TN173
電子工業薬品中の微量金属不純物定量法 TN066
非 Si 系薄膜中の金属不純物分析 TN187
スクラバー排ガス中の微量有機成分／無機成分の測定 TN092
高精度ＣＨＮ元素分析 TN101
ICP-MS／ICP-AES法による生体試料中の元素分析 TN515
廃棄物処理施設設置のための生活環境影響調査 TN508
燃料成分の網羅的解析と硫黄化合物の極微量分析 TN503
石英ガラス部材中の金属不純物分析法 TN334
有機化合物の分取・構造解析 TN488
誘導結合プラズマ質量分析法による超微量元素分析 TN051
黒鉛中微量元素の定量 TN027
化学発光法による微量窒素の定量 TN482
固体･粉体の炭素･硫黄定量分析(燃焼-赤外線吸収法) TN480
ICP-AESによる金属元素定量分析 TN023
液化石油ガス(LPG)の成分試験 TN479
ICHQ3D（元素不純物）対応の医薬品中元素不純物分析 TN476
固体ｻﾝﾌﾟﾗｰBremS®による気中の酸・塩基性成分の評価 TN438
密閉空間内のガス分析 TN425
φ450ｍｍシリコンウェーハ表面の金属不純物分析 TN410
太陽電池用シリコン最表面の微量成分分析 TN347
シリコンウェーハ局所部位中の金属不純物分析 TN335
水平型基板検査装置を用いたウェーハエッジ・ベベル部の分析 TN333
乳飲料および果汁飲料の全窒素(たんぱく質)測定例 TN240
豚肉および魚肉加工品の全窒素(たんぱく質)測定例 TN239
豆類｢粒＆粉砕品｣の全窒素､全炭素測定例 TN238
中華即席めん＆うどん等の全窒素(たんぱく質)測定例 TN237
水溶液調製試料の全窒素､全炭素測定例 TN236
食パンおよび原料などの全窒素(たんぱく質)測定例 TN235
菓子類および原料などの全窒素(たんぱく質)測定例 TN234
ビール等アルコール飲料の全窒素(たんぱく質)測定例 TN233
種実類｢粒および粉砕品｣の全窒素(たんぱく質)測定例 TN232
藻類および魚加工食品の全窒素(たんぱく質)測定例 TN231
乳加工食品の全窒素(たんぱく質)測定例 TN230
植物体等の全窒素､全炭素､灰分同時測定例 TN229
食塩添加試料の全窒素(たんぱく質)連続測定性能 TN228
食塩添加試料の全窒素(たんぱく質)測定実施例 TN227
MO樹脂等の全窒素､全炭素､灰分同時測定例 TN226
NIST生物標準試料の全窒素測定例 TN225
有機硫黄化合物の連続測定性能 TN224
有機硫黄化合物の全窒素､全炭素測定例 TN223
有機元素分析用試薬の測定性能 TN222
各種有機化合物試薬の測定性能 TN221
ケルダール法との比較分析例(4) TN220
ケルダール法との比較分析例(3) TN219
ケルダール法との比較分析例(2) TN218
ケルダール法との比較分析例(1) TN217
穀物｢粒＆粉砕品｣の全窒素､全炭素測定例 TN216
穀物類の全窒素､全炭素､灰分同時測定例 TN215
穀物類の全窒素､全炭素測定実施例 TN214
感度経時変化および補正実施例 TN213
各種アミノ酸の全窒素､全炭素測定性能(2) TN212
各種アミノ酸の全窒素､全炭素測定性能(1) TN211
有機ハロゲン化合物および有機硫黄化合物の全窒素､全炭素測定例 TN210
有機ハロゲン化合物および有機硫黄化合物の連続測定性能 TN209
有機硫黄化合物および有機ハロゲン化合物の全窒素､全炭素測定性能 TN208
高分解能誘導結合プラズマ質量分析法によるシリコンウェーハ表層酸化膜中のりん分析 TN192
有機化合物中の微量「硫黄／ハロゲン」測定 TN093
印刷インキ類の組成物解析 TN069
グロー放電質量分析法（GD-MS） TN061
高純度石英中の不純物の定量分析 TN050
ファインセラミックス中の不純物の定量分析 TN049
クリーンルーム空気中の微量物質の分析 TN045
BPSGおよびPSG膜の化学分析 TN043
シリコンウェーハ表層の金属不純物分析 TN042
XPSによる酸化膜厚の測定 TN033
顕微FT-IRによるウェーハ上付着物の分析 TN028

お問い合わせ

分析・測定や商品、コンサルティングなどのサービスに関するお問い合わせやご依頼は、お問い合わせフォームからお問い合わせください。

↩