あらゆる産業・工業分野でつくりだされる物質の表面や界面状態を電子顕微鏡を通して、直接観察できます。また、物質の内部まで直接観察ができます。
※光学顕微鏡（OM）、透過電子顕微鏡（TEM）、走査電子顕微鏡（SEM）、電解放射型走査電子顕微鏡（FE-SEM）、走査型プローブ顕微鏡（SPM）、原子間力顕微鏡（AFM）、集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)、その他
| タイトル | 整理番号 |
|---|---|
| 放射光X線CTによる冷凍試料中の組織構造観察 | TN496 |
| リチウムイオン電池電極の3次元空隙ネットワーク解析と薄板積層模型の作製 | TN493 |
| 低加速SEMによる微粒子最表面の観察 | TN454 |
| 冷却FIB法を用いた有機半導体材料の結晶性評価 | TN452 |
| Liイオン二次電池 （正極活物質の劣化構造評価） | TN440 |
| 高分解能SEMによるPt触媒の最表面と内部の観察 | TN434 |
| Li イオン二次電池 （セパレータの細孔構造評価） | TN433 |
| Liイオン電池 (電極反応分布のin situ断面観察) —Ⅲ. 安全性向上へ向けたLiデンドライト発生過程の解析— |
TN424 |
| Liイオン二次電池 (電極反応分布のin situ断面観察) —Ⅱ. 電極内Liイオン拡散の直接観察— |
TN423 |
| Liイオン二次電池 (電極反応分布のin situ断面観察) —Ⅰ. 充放電による電極色変化のリアルタイム観察— |
TN422 |
| CP加工－FE-SEMによる塗工紙断面の観察 | TN419 |
| 電子顕微鏡による有機半導体の積層構造評価 | TN409 |
| 医薬品混入異物の定性分析（その1） | TN328 |
| X線マイクロCTによる燃料電池用MEAの層構造観察 | TN309 |
| 収差補正電子顕微鏡を用いた材料評価 | TN304 |
| Li イオン二次電池（CP加工－FE-SEMによる電極断面の観察） | TN293 |