アウトガス分析評価

電子デバイスに対し、さまざまなトラブル要因となる各種材料や設備からのアウトガスを分析します。ウェーハの片面サンプリングや、製品の構成部材から最終製品などの大型試料まで、試料に合わせたサンプリング方法をご提案いたします。また減圧環境など特殊環境での試験も実施可能です。

主な分析項目

分析対象	装置・原理	手法・測定装置
原材料	材料の比較や同定未反応物や劣化物調査アルデヒド類、VOC、SVOC評価	主な前処理法ダイナミックヘッドスペース（DHS）法（パージアンドトラップ（P&T）法、加熱脱着法）スタティックヘッドスペース（HS）法熱分解（Py）法 UV照射主な測定機器ガスクロマトグラフ／質量分析計（GC/MS）発生ガス分析（EGA-MS）におい嗅ぎ（MPT）-GC/MS イオンクロマトグラフ（IC）誘導結合プラズマ質量分析計（ICP-MS）申請試験 BAM申請試験エコマーク取得申請用試験対応
成型品（部品・部材）	材料の比較や同定未反応物や劣化物調査匂い原因調査揮発性有機化合物評価アルデヒド類、VOC、SVOC評価
製品	におい原因調査揮発性有機化合物評価 BAM申請エコマーク申請

御一報ください（WEB/TEL/MAIL）→お伺いいたします（MEET/TEL/MAIL）→見積書提出→サンプル受領[受入検査/外観観察]→前処理[測定可能な状態への試料加工など]→観察・定性・定量[各種測定]→解析→速報→報告

タイトル	整理番号
高分子材料の光、酸化、熱劣化評価～UV-Py-GC/MS～	TN349
自動車部品・内装材から発生する揮発性有機化合物放散測定法	TN342
ダイナミックヘッドスペース法による揮発性化学物質の評価	TN341
大形チャンバー法による電気・電子製品からの放散ガス評価	TN340
におい嗅ぎ-MPT-GC/MS法による『におい』評価	TN320
Py-GC/MS及びEGA-MS法による加熱発生ガス分析	TN247
クリーンルーム構成材料から発生するアミン類のCE/MS分析	TN178
半導体材料のアウトガス分析	TN095
昇温脱離ガス分析法の応用	TN094
装置材料の清浄度評価	TN064
加熱発生ガスの分析	TN041