有機エレクトロニクス

有機半導体材料は、溶液を塗布することで薄膜が形成可能であり、従来の無機半導体材料に比べ低コスト、低環境負荷で電子デバイス作製が可能となります。
有機半導体材料を用いた電子デバイスの製造プロセス温度は室温近傍であり、プラスチックや紙などを基板とした軽量でフレキシブルな電子デバイスの作製に適しています。

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有機エレクトロニクス材料の不純物分析


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TF-2_1_有機薄膜材料中の不純物分析

合成時の未反応物や中間体、精製残渣物として材料中に存在する、不純物(有機成分、ハロゲン成分、金属元素)を、0.1g以下の試料量で高感度に定性・定量が可能です。


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TF-2_2_α-NPD中の有機不純物分析

有機不純物の定性分析には、LC-FT/MSなどの精密質量数測定による組成式同定が有効です。対象試料や分析目的に適した手法を選択することで不純物の構造解析が可能です。


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TF-2_3_イリジウム錯体Ir(ppy)3の不純物解析

材料の不純物解析は、高純度化に必要な工程や精製条件の改良に有効です。LC-FT/MSや分解捕集IC法を用い不純物の組成式同定を行い、構造式の推定にはLC-FT/MSnやNMRが有効です。


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TF-2_4_有機材料中の微量金属汚染評価

有機エレクトロニクス材料は貴重なため、微小量試料で高感度な分析が望まれます。当社の密閉分解法/ICP-MS測定では、数mgの極少量で0.0Xppmの微量金属が定量可能です。


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TF-2_5_有機材料中のハロゲン分析

新規に開発した分解捕集-イオンクロマトグラフを用いることで、微小量試料で0.Xppmレベルのハロゲン成分(F、Cl、Br)を高精度に定量可能です。


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TF-2_6_電界誘起ESRによる有機デバイスの不純物評価

電界誘起電子スピン共鳴(Field-Induced ESR)を用いることで有機デバイスのキャリア挙動・移動・劣化度・電荷輸送・分子配向を、非破壊で素子動作中に測定可能です。


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TF-2_7_電界誘起ESRによる有機薄膜の分子配向性評価

電界誘起電子スピン共鳴(Field-Induced ESR)の角度分解測定法を用いることで、有機デバイス素子内の有機薄膜の分子配向性を評価することが可能です。

有機薄膜評価および断面構造観察


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TF-2_8_有機多層膜の高倍率観察/有機EL素子の断面観察

有機膜の積層構造の評価には、EF-TEM(Energy-Filtering TEM)を用いた高倍率断面観察が有効です。
有機EL素子の断面方向からプラズモンロス像を取得することで、有機積層膜構造が詳細に観察可能です。


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TF-2_9_ナノ構造体の断面解析

層分離構造の観察には、低加速STEMとEF-TEM(Energy-Filtering TEM)を用いた断面観察が有効です。また、元素分析や結晶性評価を組み合わせることで高次構造解析が可能です。


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TF-2_10_共蒸着薄膜CBP/Ir(ppy)3の精密定量

有機ELデバイスの大面積化が進む中、膜の面内均一性の評価は重要です。共蒸着膜中の各成分の組成比を高精度に測定することで、ドーパントの面内均一性評価が可能です。


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TF-2_11_PAR-XPSによる有機薄膜の深さ方向組成解析

自己組織化膜(Self-Assembled Monolayer : SAM)などの深さ方向組成や配向状態を評価するには、同時角度分解XPS(Parallel Angle Resolved XPS)が有効です。

有機材料の劣化評価


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TF-2_12_レーザーラマン分光法による非破壊評価

ガラス封止されたAlq3膜について加熱による結晶構造変化をレーザーラマン分光法で解析しました。共焦点測定機能と高速イメージング機能を組み合わせることで封止状態の測定が可能です。


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TF-2_13_ケミルミネッセンス法による高分子材料の劣化評価

劣化に伴う活性な反応中間体を熱励起し極微弱発光(ケミルミネッセンス)を鋭敏に検出することで、他の手法では捉えられない初期の酸化劣化の試料間比較が可能です。


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TF-2_14_有機ELパネル内部の発生ガス分析

パネルやパッケージ試料を清浄空間で破壊することで、内部に存在するガス成分をサンプリングし、適した手法で測定することで、試料間の内部発生ガスの挙動を比較評価することが可能です。

有機材料の物性試験・評価


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TF-2_15_高感度水蒸気透過度測定

高性能バリアフィルムに要求される防湿性について、10-6g/m2/dayレベルの水蒸気透過度(WVTR)をQ-MSを用いて測定可能です(API-MS法)。またご要求に応じ適した方法をご提案致します。


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TF-2_16_シール部のバリア性評価

評価用サンプルの構造を工夫し高感度測定法(API-MS等)を組み合わせることで、封止・接着するシール部のガスバリア性を高感度に評価することが可能です。


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TF-2_17_有機材料の伝熱性能評価

熱電発電材料や放熱材量の評価には、低温領域の熱拡散率測定が有効です。ここではレーザーフラッシュ法を用いた-100℃~250℃における伝熱性能の異方性評価をご紹介します。


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TF-2_18_薄膜材料の熱伝導率測定

様々な材料の熱伝導率は、周期加熱法、レーザーフラッシュ法、熱線法、熱流計法など適した熱物性測定技術を用いることで評価可能です。


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TF-2_19_粉体物性評価・構造解析

有機、無機の粉体材料について、X線回折やX線吸収微細構造分析による構造解析、電子顕微鏡観察、密度や粒度分布、細孔分布などの物性測定を行います。


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TF-2_20_危険性評価試験

新規有機・無機材料の開発や、製造工程の安全管理のために必要な材料の危険性を評価することが可能です。


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TF-2_21_フィルム物性・試験評価

フィルム評価には光学的、電気的、物理的な特性評価と、耐久性、耐薬品性試験評価があります。試験評価前後の特性評価に加え、規格外の物性測定(温度、湿度、負荷率など)が可能です。

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