■ 開催日時
2010年3月3日(水) 〜 3月5日(金)
10:00-18:00
※3月5日（金）は 17：00終了
|
■ 会場
東京ビッグサイト、東展示場
ブース番号： 東２ホール ４−２７ |
■ 入場料金 ： 無料
御案内状をご希望の方はこちらからお申し込み下さい。
|
|
| |
■ 出展内容のご紹介
|
|
- 高分解能球面収差補正（走査）透過電子顕微鏡による
ナノ領域の元素構造分析
- 水分吸脱装置による高分子膜の特性評価
- 水蒸気及び窒素による材料の親水性・疎水性評価
- ARCを用いたリチウムイオン電池の安全性評価
- 電解液の化学分析
|
| |
|
|
