エレクトロニクス
エレクトロニクスの発展と技術の向上に豊富な化学知識と経験、優れた最新技術の分析で貢献いたします。
表面分析・形態観察
- ドーパントの深さ方向分析
- 表面有機・無機汚染分析
- 元素定性・結合状態調査
- 極表面非破壊深さ方向分析
- 微小部の元素定性分析
- 表面観察・断面構造観察・元素分析・結晶構造評価
- 表面凹凸評価 等
コンタミネーション・異物解析
- ウェーハ表面・表層の微量不純物定量分析
- 微小異物の定性定量分析
微細構造観察（TEM）
- 収差補正電子顕微鏡を用いた高分解能観察
- 低加速電圧観察による材料評価
- FIB-TEMによる試料最表面の状態観察
アウトガス分析評価
- 各種材料・部品・製品のアウトガス
- 家電製品のアウトガス
- 各種放散試験
- チャンバー法による試験
- 建材からの化学物質放散量測定試験
- 車室内の化学物質の評価
信頼性試験評価
- 環境試験
- 故障・不具合の原因調査
クリーンルーム評価
- ケミカルコンタミネーション分析・解析
原材料分析評価
- 高純度薬品分析
- 高純度ガス分析
- フォトレジスト分析 他
一般化学品材料の組成分析・構造解析
- 混入･付着異物分析
- 不純物
金属・セラミックス材料の評価・試験
- 「引張り強さ」「伸び」「絞り」「硬さ」「衝撃値」「疲労限」「残留応力」などの機械的試験
- 「腐食・損傷」「劣化」「割れ・破壊」などの損傷解析
ナノテク開発支援サービス
- ナノサイズの構造解析