エレクトロニクス

エレクトロニクスの発展と技術の向上に豊富な化学知識と経験、優れた最新技術の分析で貢献いたします。

表面分析・形態観察

  • ドーパントの深さ方向分析
  • 表面有機・無機汚染分析
  • 元素定性・結合状態調査
  • 極表面非破壊深さ方向分析
  • 微小部の元素定性分析
  • 表面観察・断面構造観察・元素分析・結晶構造評価
  • 表面凹凸評価 等

コンタミネーション・異物解析

  • ウェーハ表面・表層の微量不純物定量分析
  • 微小異物の定性定量分析

微細構造観察(TEM)

  • 収差補正電子顕微鏡を用いた高分解能観察
  • 低加速電圧観察による材料評価
  • FIB-TEMによる試料最表面の状態観察

アウトガス分析評価

  • 各種材料・部品・製品のアウトガス
  • 家電製品のアウトガス
  • 各種放散試験
  • チャンバー法による試験
  • 建材からの化学物質放散量測定試験
  • 車室内の化学物質の評価

ガラス・石英の分析評価

  • ガラス・石英原料、製品、コート品の各種分析評価

信頼性試験評価

  • 環境試験
  • 故障・不具合の原因調査

クリーンルーム分析評価

  • ケミカルコンタミネーション分析・解析

原材料分析評価

  • 高純度薬品分析
  • 高純度ガス分析
  • フォトレジスト分析 他

一般化学品材料の組成分析・構造解析

  • 混入・付着異物分析
  • 不純物

金属・セラミックス材料の評価・試験

  • 「引張り強さ」「伸び」「絞り」「硬さ」「衝撃値」「疲労限」「残留応力」などの機械的試験
  • 「腐食・損傷」「劣化」「割れ・破壊」などの損傷解析

ナノテク開発支援サービス

  • ナノサイズの構造解析
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