SCAS  Sumika Chemical Analysis Service, Ltd.

与电子有关的分析服务

应用我们丰富的化学知识和经验以及卓越的最新分析技术、为电子工学的发展和技术的提高贡献力量。

  设备表层的评价
  • 各种薄膜中的金属杂质分析
  • 单晶片表层的微量杂质分析
  • 微小截面观察和元素分析
  • 表层薄膜的定性定量分析
  • 微量污染分析
  • 配线缺陷解析、性能缺陷解析及微小异物分析
  电子零件的评价
  • 焊接缺陷状态解析
  • 脱附气相评价
  • 化学材料的劣化解析
  分离提取技术
  • 微操作设备
  • 风压取样器
  • 洁净室空气评价用取样调查装置
  • 溶液吸收捕集/固体吸收捕集
  • 顶空分离
  • 热脱附气相
  • 溶剂液膜表层分离
  • 细微加工处理
  原材料的分析评价
  • 高纯度药品分析
  • 高纯度气体分析
  • 光刻胶分析
  • 封装剂、焊锡、配线糊剂类的易湿性及腐蚀性等
  洁净室的评价
  • 洁净室内空气评价
  • 构成部件
  • 过滤器性能评价
   LCD缺陷解析
  • 液晶部件的固定、解析
  • 构成材料的缺陷解析
  与开发有关的评价
  • 化学品合成
  • 环境相关的分析
  • 腐蚀环境下的耐久性评价
  • 化学品安全性试验
  • 再利用测定试验
  • 制造装置评价
  • 装置材料评价
  • 装置腐蚀评价
电子零件、材料的可靠性评价

各种薄膜中的金属杂质分析

洁净室评价

表层分析、结构解析(分析领域和特点)
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